首先上海爾迪儀器科技有限公司帶大家認(rèn)識一下bruker。bruker是分子和材料研究以及工業(yè)和應(yīng)用分析科學(xué)儀器的制造商。其高性能科學(xué)儀器和高價值的分析和診斷解決方案使科學(xué)家能夠探索分子、細(xì)胞和微觀層面的生命和材料。

bruker的Dektak®探針式輪廓儀是技術(shù)進(jìn)步的高峰。它們提供可重復(fù)、可靠和準(zhǔn)確的測量：從傳統(tǒng)的臺階高度測量和二維粗糙度的表面表征到高級三維形貌和薄膜應(yīng)力分析。Dektak 探針式輪廓儀已被廣泛接受為薄膜厚度、應(yīng)力、表面粗糙度和形貌測量的金標(biāo)準(zhǔn)，應(yīng)用到從學(xué)術(shù)研究到半導(dǎo)體過程控制等不同領(lǐng)域。

1. 更快速的收集和分析

相比于普通臺階儀，bruker Dektak臺階儀可以直接驅(qū)動掃描樣品臺，測量時間也加快 40%，同時保持優(yōu)質(zhì)迅速的性能。

2.低噪低降

單拱門結(jié)構(gòu)設(shè)計使 DektakXT 更堅固，從而將環(huán)境噪音的影響降至低。DektakXT 升級的"智能電子設(shè)備"可降低溫度變化的影響，并采用現(xiàn)代處理器，最大限度地減少噪聲水平，使其成為能夠測量 <10nm 臺階高度的更強大的系統(tǒng)。

3.全面的操作與分析

DektakXT搭配的Vision64 是bruker的 64 位并行處理操作和分析軟件，通過提供最直觀、最簡化的用戶可視化界面，加入到 DektakXT 的創(chuàng)新設(shè)計。而且能夠更快地加載 3D 形貌文件，并更快地應(yīng)用篩選器和多區(qū)域數(shù)據(jù)庫分析。無論您是使用分析腳本對單個掃描結(jié)果進(jìn)行分析，還是應(yīng)用自定義篩選器設(shè)置和計算，DektakXT 的數(shù)據(jù)分析器都能顯示當(dāng)前分析結(jié)果，同時顯示其他可能的分析工具。

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